Какъв е принципът на трансмисионната електронна микроскопия?
Принципът на изобразяване на електронния микроскоп и оптичния микроскоп е по същество един и същ, разликата е, че първият е с електронен лъч като източник на светлина, с електромагнитно поле като леща. Освен това, тъй като проникването на електронния лъч е много слабо, така че образецът, използван за електронна микроскопия, трябва да бъде направен от ултратънки срезове с дебелина около 50nm. Такива резени трябва да се правят с ултрамикротом. Увеличението на електронния микроскоп до почти милион пъти чрез осветителната система, системата за изображения, вакуумната система, записващата система, захранващата система се състои от пет части, ако са подразделени: основната част на електронната леща и системата за запис на изображения, поставени в вакуум от електронна пушка, кондензиращо огледало, камера за обекти, обектив, дифракционно огледало, междинно огледало, проекционно огледало, флуоресцентен екран и камера. Електронният микроскоп е микроскоп, който използва електрони, за да визуализира вътрешността или повърхността на обект. Дължината на вълната на високоскоростните електрони е по-къса от тази на видимата светлина (дуалност вълна-частица), а разделителната способност на микроскопа е ограничена от дължината на вълната, която използва, така че теоретичната разделителна способност на електронния микроскоп (около 0 .1 нанометра) е много по-висока от тази на оптичен микроскоп (около 200 нанометра). Трансмисионен електронен микроскоп (Трансмисионен електронен микроскоп, съкратено ТЕМ), наричан трансмисионен електронен микроскоп, е ускорен и агрегиран лъч от електрони, проектиран върху много тънка проба, където електроните се сблъскват с атомите в пробата и променят посоката, което води до пространствен ъгъл на разсейване. Размерът на ъгъла на разсейване е свързан с плътността и дебелината на пробата, така че могат да се формират различни светли и тъмни изображения и изображението ще се покаже на устройството за изображения (като флуоресцентен екран, филм и фотосъединителни компоненти) след увеличение и фокусиране. Поради много късата дължина на вълната на De Broglie на електроните, разделителната способност на трансмисионния електронен микроскоп е много по-висока от тази на оптичния микроскоп, който може да достигне 0,1~0,2nm, а увеличението е десетки хиляди~милиони пъти. Следователно използването на трансмисионна електронна микроскопия може да се използва за наблюдение на фината структура на проба или дори структурата само на един ред атоми, десетки хиляди пъти по-малки от най-малката структура, която може да се наблюдава с оптичен микроскоп. ТЕМ е важен аналитичен метод в много области на науката, свързани с физиката и биологията, като изследване на рака, вирусология, наука за материалите, както и нанотехнологии, изследвания на полупроводници и т.н.
