Въведение в характеристиките на сканиращия сондов микроскоп
Сканиращ сондов микроскоп (Scanning Probe Microscope, SPM) е сканиращият тунелен микроскоп и в сканиращия тунелен микроскоп въз основа на разработването на различни нови сондови микроскопи (атомно-силов микроскоп AFM, лазерен силов микроскоп LFM, магнитен силов микроскоп MFM и така нататък) колективно, е международното развитие на повърхността на аналитичните инструменти през последните години, е цялостното използване на оптоелектронна технология, лазерна технология, технология за откриване на слаб сигнал, прецизен механичен дизайн и обработка, технология за автоматично управление, технология за цифрова обработка на сигнали , приложна оптична технология, компютърно високоскоростно придобиване и контрол и технология за графична обработка с висока разделителна способност и други съвременни научни и технологични постижения на оптична, механична и електрическа интеграция на високотехнологични продукти. Този нов тип микроскопски инструмент има очевидни предимства в сравнение с различни микроскопи и аналитични инструменти в миналото:
1, SPM има много висока резолюция. Той може лесно да "види" атома, което е трудно да се достигне до общия микроскоп и дори до електронния микроскоп.
2, SPM е изображение с висока разделителна способност в реално време, реална проба на повърхността, което наистина вижда атома. За разлика от някои аналитични инструменти, повърхностната структура на пробата се извежда чрез индиректни или изчислителни методи.
3, SPM се използва в спокойна среда. Електронен микроскоп и други инструменти за изискванията на работната среда на по-взискателните, пробата трябва да се постави в условия на висок вакуум, за да се тества. SPM може да работи във вакуум, но също и в атмосферата, ниска температура, стайна температура, висока температура и дори в разтвор. Следователно SPM е подходящ за научни експерименти в различни работни среди.
