Как конфокалната микроскопия създава триизмерни изображения
Конфокалната микроскопия е важна микроскопска техника, която осигурява възможности за триизмерно изображение с висока разделителна способност и е от голямо значение в области като науката за материалите.
Принципи на 3D изображения
Светлинният лъч, излъчван от LED източника на светлина, се фокусира върху повърхността на пробата след преминаване през диск с много отвори и обектив. След това лъчът се отразява обратно към измервателната система през повърхността на пробата. Когато отново премине през дупките на MPD, отразената светлина ще задържи само фокусираните светлинни точки. Накрая лъчът светлина се отразява от сплитер и се изобразява на камерата. Чрез сканиране на пробата може да се получи информация за изображение с различна дълбочина.
Конфокалната микроскопия може да осигури възможности за триизмерно изображение с висока разделителна способност. В областта на производството на материали, той може да измерва физическата морфология на повърхността и да извършва триизмерен морфологичен анализ в микронаномащаб, като 3D повърхностна морфология, 2D дълбочинна морфология, контур (дълбочина, ширина, кривина, ъгъл), грапавост на повърхността и др.
При същите условия на обективно увеличение, конфокалната микроскопия показва по-ясни и фини морфологични детайли на изображението, с по-висока странична разделителна способност. Владеещ в откриването на груби контури на микро и нано ниво, способен да предостави цветни изображения с истински цветове за лесно наблюдение.
Ролята на конфокалната микроскопия
Конфокалният микроскоп е инструмент за откриване, използван за измерване на микро и нано ниво на различни прецизни устройства и материални повърхности. Това е оптичен инструмент за откриване, който използва конфокална технология като принцип, комбиниран с прецизни модули за сканиране по Z-ос, алгоритми за 3D моделиране и т.н., за извършване на безконтактно сканиране на повърхността на устройството и създаване на повърхностно 3D изображение. 3D изображението на повърхността на устройството се обработва и анализира чрез системен софтуер и се получават 2D и 3D параметри, отразяващи качеството на повърхността на устройството, като по този начин се постига 3D измерване на морфологията на повърхността на устройството.
