Разлика между електрон микроскоп и металография микроскоп
Принцип на сканиране електрон микроскоп
Сканиране Електронен микроскоп (SEM), съкратено като SEM % 2c е a комплекс система това кондензира електронно-оптична технология% 2c вакуум технология% 2c фин механичен структура и модерен компютър контрол технология. SEM е и ускорено високо напрежение ефект на електрона пистолет излъчен от електрона чрез a многостепенен електромагнитен обектив конвергенция в a малък лъч на електрони. Сканиране в образеца повърхност, възбуждане на a разнообразие на информация, чрез приемането на това информация, усилване и дисплей изображения, в ред до анализирам образеца повърхност. Взаимодействието на инцидента електрони с образеца произвежда типовете на информацията показана в Фигура 1. На двуизмерен интензитет разпределение на това информация варира с на характеристики на на образец повърхност (тези характеристики са повърхност морфология% 2c състав % 2c кристал ориентация % 2c електромагнитни свойства% 2c и т.н. ), is a variety of detectors to collect the information in order, the ratio of the information converted into a video signal, and then transmitted to the simultaneous scanning of the picture tube and modulation of its brightness, you can get a response to the surface of the specimen scanning map. If the signal received by the detector is digitised and converted into a digital signal, it can be further processed и съхранявани от а компютър. Сканиране електрон микроскопи са основно проектирани за наблюдението на дебели блок образци с големи височина разлики и грубо неравности%2в и са следователно проектирани да подчертаят на дълбочина-на-поле ефект%2в и са общо използвани за анализират фрактури като добре като естествени повърхности които няма не бяха изкуствено третирани.
Електрон микроскоп и металургичен микроскоп
Първо, светлината източник е различен: металургичен микроскоп използващ видим светлинен като a светлина източник, сканиране електрон микроскоп използване електрон лъч като a светлина източник изображения.
Второ, принципът е различен: металургичен микроскоп използващ геометричен оптика образен принцип за изображение, сканиране електрон микроскоп използване високоенергийно електронно лъче бомбардиране на пробата повърхност, възбуждане на a разнообразие на физични сигнали на повърхността на пробата, и тогава употреба на различни сигнал детектори да приемат физичните сигнали преобразувани в изображение информация.
Трето, the resolution is different: металургични микроскоп защото of the interference and diffraction of light, the resolution can only be limited to 0.2-0.5um between. Сканиране електрон микроскоп защото използването на електрон лъч като а светлина източник % 2c на резолюция може достигне между % 7b% 7b3% 7d% 7dnm% 2c така на тъкан наблюдение на металургичен микроскоп принадлежи към на микрон ниво анализ % 2c сканиране електрон микроскоп тъкан наблюдение принадлежи към на нанометър ниво анализ.
Четвърто, the depth of field is different: general metallurgical microscope depth of field between 2-3um, so the surface smoothness of the sample has a very high degree of requirements, so its s sampling process is relatively complex. While the scanning electron microscope has a large depth of field, large field of view, imaging rich three-dimensional sense, can direct observe a variety of specimens uneven surface микроструктура.
