Пропускане и епи-осветяване на микроскопи за инструменти за металографски анализ
Методите за осветяване на микроскопи за инструменти за металографски анализ обикновено се разделят на две категории: „пропускливо осветление“ и „епископско осветление“. Първият е подходящ за прозрачни или полупрозрачни обекти и повечето биологични микроскопи принадлежат към този тип метод на осветяване; последното е подходящо за непрозрачни обекти, а източникът на светлина идва отгоре, известно още като "рефлективно осветление". Основни приложения с металографска микроскопия или флуоресцентна микроскопия.
1. Транс-осветяване
Биологичните микроскопи се използват най-вече за наблюдение на прозрачни образци и трябва да бъдат осветени с пропускаща светлина. Има два метода на осветление
(1) Критично осветление След като източникът на светлина премине през кондензатора, той се изобразява в равнината на обекта, както е показано на фигура 5. Ако загубата на светлинна енергия се пренебрегне, яркостта на изображението на източника на светлина е същата като светлината самият източник, така че този метод е еквивалентен на поставяне на източника на светлина върху равнината на обекта. Очевидно при критично осветяване, ако яркостта на повърхността на светлинния източник не е равномерна или очевидно показва малки структури, като нишки и т.н., тогава ефектът на наблюдение на микроскопа ще бъде сериозно засегнат, което е недостатъкът на критично осветление. Решението е да поставите млечнобели и топлопоглъщащи цветни филтри пред източника на светлина, за да направите осветяването по-равномерно и да избегнете повреда на обекта, който ще се проверява, поради дълготрайно облъчване на източника на светлина. При осветяване с преминаваща светлина ъгълът на апертурата на изобразяващия лъч на лещата на обектива се определя от ъгъла на апертурата на квадратния лъч на кондензаторното огледало. За да се използва пълноценно цифровата апертура на обектива, събирателната леща трябва да има същата или малко по-голяма числова апертура като обектива.
(2) Кола осветление Недостатъкът на неравномерното осветяване на повърхността на обекта при критично осветление може да бъде елиминиран при Кола осветление. Допълнителна събирателна леща 2 се добавя между източника на светлина 1 и събирателната леща 5, както е показано на ФИГ. 6. Може да се види, че зрителното поле (образец) на лещата на обектива е равномерно осветено, тъй като източникът на светлина не е директно осветен, но спомагателният кондензатор 2 (наричан още Kolar огледало), равномерно осветен от източника на светлина, е изобразен на образец 6 .
2. епи-осветление
При наблюдение на непрозрачни обекти, като например наблюдение на метални шлифовъчни дискове през металографски микроскоп, той често се осветява отстрани или отгоре. По това време на повърхността на обекта, който трябва да се наблюдава, няма покривно стъкло и изображението на образеца се генерира от отразената или разсеяна светлина, влизаща в лещата на обектива.
3. Метод на осветяване за наблюдение на частици с помощта на тъмно поле
Ултрамикроскопичните частици могат да се наблюдават с метода на тъмното поле. Така наречените ултрамикроскопични частици се отнасят до онези малки частици, които са по-малки от границата на разделителна способност на микроскопа. Принципът на осветяването на тъмното поле е: не позволявайте на основната осветителна светлина да навлезе в лещата на обектива и само светлината, разпръсната от частиците, може да влезе в лещата на обектива за изобразяване. Следователно изображението на ярки частици е дадено на тъмен фон. Въпреки че фонът на зрителното поле е тъмен, контрастът (контрастът) е много добър, което може да подобри разделителната способност.
Осветяването на тъмното поле може да се раздели на еднопосочно и двупосочно
(1) Еднопосочно осветяване на тъмното поле Фигура 8 е схематична диаграма на еднопосочно осветяване на тъмното поле. Може да се види от фигурата, че след като светлината, излъчвана от осветителя 2, се отрази от непрозрачния лист на образеца 1, основната светлина не навлиза в лещата на обектива 3, а светлината, навлизаща в лещата на обектива, се разсейва главно от частици или неравномерно подробности. Очевидно това еднопосочно осветяване на тъмното поле е ефективно за наблюдение на съществуването и движението на частици, но не е ефективно за възпроизвеждане на детайлите на обектите, тоест има феномен на "изкривяване".
(2) Двупосочно осветяване на тъмното поле Двупосочното осветяване на тъмното поле може да елиминира дефекта на изкривяване, причинен от еднопосочно. Пред общия кондензатор с три лещи поставете пръстеновидна диафрагма, както е показано на фигура 9, за да реализирате двупосочно осветяване на тъмното поле. Течността е потопена между последното парче на кондензатора и стъклото на обектива, докато пространството между покривното стъкло и лещата на обектива е сухо. Следователно инструментът за металографски анализ е снабден с предаване и епи-тип осветление на микроскопа, а пръстеновидният лъч, преминаващ през кондензатора, се отразява напълно в покривното стъкло и не може да влезе в лещата на обектива, образувайки верига, както е показано на фигурата . Само светлината, разпръсната от частиците върху образеца, навлиза в лещата на обектива, образувайки двупосочно осветяване на тъмното поле. За други свързани инструменти като анализатор на разтопено желязо, анализатор на въглероден силиций и др., моля, консултирайте се с технологичния отдел на Tongpu.
