Налични диапазони на осветяване на микроскопа
В допълнение към ръчните модели, микроскопът се предлага и с новата гама моторизирани универсални осветители. Белият LED осветител е подходящ за наблюдение на ярко поле. Потребителите могат да избират 12V50W халогенна лампа или бял LED източник на светлина според целта на наблюдение и работата.
Универсален епи-осветител за микроскоп LV-UEP1, този универсален епи-осветител може също да извършва наблюдение на ярко поле, тъмно поле, проста поляризирана светлина и DIC наблюдение. Осветителят автоматично отваря диафрагмите на полето и апертурата при превключване от наблюдение в светло поле към наблюдение в тъмно поле. Когато се върне към светло поле, осветителят автоматично възстановява предишните условия на поле и диафрагма.
Микроскоп LV-UEP2 епи-осветител с общо предназначение, в допълнение към светло поле, тъмно поле, проста поляризирана светлина и DIC, този осветител може също така да извършва епи-флуоресцентно наблюдение. Свързаната структура на осветителя със затвора, зрителното поле и диафрагмата на апертурата автоматично задава оптималните условия на осветление. Тази функция минимизира сложността на работа с измервателния микроскоп, позволявайки на потребителя да се концентрира върху наблюдението.
Микроскоп LV-UEP1 FA Универсален Epi-Illuminator Focus Assist, този универсален Epi-Illuminator е оборудван с допълнителен FA механизъм за подпомагане на дикроична призма за фокусиране, за да осигури по-добра яснота при измерване по оста Z.
Анализ на софтуер за измерване на микроскоп, металографски микроскоп
1) Софтуерът предоставя хоризонтални линии, вертикални линии, диагонални линии, кръгове и други методи за измерване на възли за измерване на размера на зърното. Той може автоматично да определи бързото измерване и изчисляване на границите на зърната и може да избере ръчни или автоматични методи за измерване. Данните от измерванията могат да бъдат анализирани статистически и след това изходът може да бъде експортиран в отчет на Excel.
2) Помага на потребителите да анализират и измерват скоростта на металографска сфероидизация чрез използване на параметри като кръглост, площ и форма
3) Площта и процентът на площта могат да бъдат изчислени според категорията на избрания металографски материал
4) Може да се използва и за анализ на повърхностната порьозност на порести материали или за определяне на размера и площта на порите
5) За да се преодолее ограничението на обектива с голямо увеличение и цифровата апертура, малката вертикална дълбочина на полето и вертикалната разлика във височината правят металографската повърхност
замъглен проблем
