Фактори, влияещи върху разделителната способност на трансмисионния електронен микроскоп
Фини структури, по-малки от 0.2µm, не могат да се видят ясно под оптичен микроскоп. Тези структури се наричат субмикроскопични структури или ултрамикроскопични структури.
структури; ултраструктури). За да се видят ясно тези структури, трябва да се избере източник на светлина с по-къса дължина на вълната, за да се увеличи разделителната способност на микроскопа. През 1932 г. Руска изобретява трансмисионния електронен микроскоп (ТЕМ) с електронен лъч като източник на светлина. Дължината на вълната на електронния лъч е много по-къса от видимата светлина и ултравиолетовата светлина, а дължината на вълната на електронния лъч е обратно пропорционална на корен квадратен от напрежението на излъчения електронен лъч. , тоест колкото по-високо е напрежението, толкова по-къса е дължината на вълната. Текущата разделителна способност на TEM може да достигне 0.2nm.
Принципите на изобразяване на електронни микроскопи и оптични микроскопи са основно еднакви. Разликата е, че първият използва електронни лъчи като източник на светлина и електромагнитни полета като лещи. Освен това, тъй като проникващата способност на електронните лъчи е много слаба, пробите, използвани за електронна микроскопия, трябва да бъдат направени в ултратънки срезове с дебелина около 50 nm. Този вид срез трябва да се направи с ултрамикротом. Увеличението на електронния микроскоп може да достигне почти един милион пъти. Състои се от пет части: електронна осветителна система, електромагнитна система за изображения на лещи, вакуумна система, записваща система и система за захранване. Ако е разбит: основната част е електронната леща и записът на изображения. Системата се състои от електронен пистолет, кондензатор, камера за проби,
Обективна леща, дифракционна леща, междинна леща,
Прожекционни огледала, флуоресцентни екрани и камери.
Електронният микроскоп е микроскоп, който използва електрони, за да разкрие вътрешността или повърхността на обект.
Дължината на вълната на високоскоростните електрони е по-къса от тази на видимата светлина (дуалност вълна-частица), а разделителната способност на микроскопа е ограничена от дължината на вълната, която използва, така че разделителната способност на електронния микроскоп (около 0. 1 нанометър) е много по-висока от тази на оптичен микроскоп (приблизително 200 nm).
