Разлики в електронната микроскопия и металографската микроскопия
Принципи на сканиращата електронна микроскопия
Сканиращият електронен микроскоп, съкратено SEM, е сложна система; Концентрирана електронна оптична технология, вакуумна технология, фина механична структура и модерна компютърна технология за управление. Сканиращата електронна микроскопия е процес на комбиниране на електрони, излъчени от електронна пушка под ускорено високо налягане, в малък електронен лъч през многостепенна електромагнитна леща. Сканирайте повърхността на пробата, за да възбудите различна информация, и анализирайте повърхността на пробата чрез получаване, усилване и показване на изображения на тази информация. Взаимодействието между падащия електрон и пробата произвежда типа информация, показан на Фигура 1. Двуизмерното разпределение на интензитета на тази информация варира в зависимост от характеристиките на повърхността на пробата (като морфология на повърхността, състав, кристална ориентация, електромагнитни свойства, и т.н.). Това е процес на последователно и пропорционално преобразуване на информацията, събрана от различни детектори, във видео сигнали и след това предаването им към синхронно сканирани тръби за изображения и модулиране на тяхната яркост, за да се получи сканиращо изображение, което отразява състоянието на повърхността на пробата. Ако полученият от детектора сигнал се дигитализира и преобразува в цифров сигнал, той може да бъде допълнително обработен и съхранен от компютъра. Сканиращата електронна микроскопия се използва главно за наблюдение на дебели блокови проби с големи разлики във височината и грапавост, като по този начин подчертава ефекта на дълбочината на полето в дизайна. Обикновено се използва за анализ на фрактури и естествени повърхности, които не са били изкуствено третирани.
Електронен микроскоп и металографски микроскоп
1, Различни източници на светлина: Металографският микроскоп използва видима светлина като източник на светлина, докато сканиращият електронен микроскоп използва електронен лъч като източник на светлина за изображения.
2, Принципът е различен: металографският микроскоп използва принципи на геометрични оптични изображения за изображения, докато сканиращият електронен микроскоп използва високоенергийни електронни лъчи, за да бомбардира повърхността на пробата, стимулирайки различни физически сигнали на повърхността. След това се използват различни сигнални детектори за получаване на физически сигнали и преобразуването им в информация за изображението.
3, Различни разделителни способности: Поради интерференцията и дифракцията на светлината разделителната способност на металографския микроскоп може да бъде ограничена само до 0.2-0.5um. Благодарение на използването на електронен лъч като източник на светлина, сканиращата електронна микроскопия може да постигне разделителна способност между 1-3nm. Следователно, наблюдението на микроструктурата при металографската микроскопия принадлежи към микромащабния анализ, докато наблюдението на микроструктурата при сканиращата електронна микроскопия принадлежи към наномащабния анализ.
4, Различна дълбочина на рязкост: Обикновено дълбочината на рязкост на металографски микроскоп е между 2-3um, така че има изключително високи изисквания за гладкостта на повърхността на пробата, така че процесът на подготовка на пробата е относително сложен. Сканиращата електронна микроскопия, от друга страна, има голяма дълбочина на полето, широко зрително поле и ефект на триизмерно изображение. Той може директно да наблюдава фините структури на различни неравни повърхности на проби.
