Метод за преценка на постоянството на фокуса на стерео микроскоп
Изображенията, направени от микроскопа на една и съща дълбочина, имат различна резолюция в различните области. Чрез регулиране на позицията на оста на микроскопа се получават последователните изображения на калибровъчната плоча и методът за сегментиране на свързан регион се използва за сегментиране на изображенията на калибриращата плоча на различни дълбочини и центърът на точката се извлича. След това използвайте функцията за дискриминация на фокуса, за да получите най-ясната позиция, съответстваща на всяка точкова област в последователното изображение, използвайте кривата на връзката рязкост-дълбочина, за да получите информация за дълбочината, и комбинирайте информацията за дълбочината с информацията за равнината, за да реконструирате набор от ясен фокус равнина, която е равнината на пълен фокус.
Принцип на съгласуваност на фокуса на стереомикроскопа
При изображения с камера, когато разстоянието на обекта u, разстоянието на изображението v и фокусното разстояние f отговарят на формулата (1), може да се получи ясно изображение.
Изображенията, направени от микроскопа на една и съща дълбочина, имат различна резолюция в различните области. Чрез регулиране на позицията на оста на микроскопа се получават последователните изображения на калибровъчната плоча и методът за сегментиране на свързан регион се използва за сегментиране на изображенията на калибриращата плоча на различни дълбочини и центърът на точката се извлича. След това използвайте функцията за дискриминация на фокуса, за да получите най-ясната позиция, съответстваща на всяка точкова област в последователното изображение, използвайте кривата на връзката рязкост-дълбочина, за да получите информация за дълбочината, и комбинирайте информацията за дълбочината с информацията за равнината, за да реконструирате набор от ясен фокус равнина, която е равнината на пълен фокус.
Принцип на съгласуваност на фокуса на стереомикроскопа
При изображения с камера, когато разстоянието на обекта u, разстоянието на изображението v и фокусното разстояние f отговарят на формулата, може да се получи ясно изображение.
Ако някой параметър се промени, точката на ясното изображение ще се превърне в кръгло петно, като по този начин се образува замъглено изображение". Да приемем, че радиусът на кръглото петно е r; радиусът на лещата е T0; разстоянието от фокална равнина към фокалната равнина е Av. Чрез подобни триъгълници може да се познае знанието
Съгласно принципа на стереомикроскопското изображение, може да се знае, че връзката между равнината на бинокулярното изображение определя връзката между равнината на фокусиране на бинокулярното изображение. От формулата (4) може да се види, че според ъгъла a между лявата и дясната равнина на изображението и ъгъла a на фокусната равнина има качествена връзка, така че лявата и дясната фокусна равнина Включеният ъгъл е 0. Може да се използва като индекс за преценка на постоянството на фокуса на стерео микроскоп. В същото време може да се знае, че регулирането на ъгъла между лявата и дясната равнина на фокусиране според ъгъла между равнините на изображение прави лявата и дясната равнина на фокусиране възможно най-последователни.
експериментална платформа
Експерименталната платформа се състои от стерео микроскоп, прецизна мобилна повдигаща платформа и компютър. Стерео микроскопът е микроскоп NSZ{{0}} от NOVEL OPTICS, разделителната способност на лявата и дясната камера е 720×576 пиксела, плочата за калибриране на точки се използва като проба за измерване, диаметърът на точката е 25gm, а разстоянието е 100~m. Точковата калибровъчна плоча се поставя върху прецизна електронно управлявана вертикална повдигаща платформа (CHU0 SEIKI XA07A-R2H), а минималната стъпка на движение е 2 m. Повдигащата се платформа се управлява да се движи на равно разстояние, с дължина на стъпката 2 m, като за всяка стъпка се прави снимка и се събират общо 117 изображения.
