Сравнителен анализ на предимствата и недостатъците на атомно-силовата микроскопия и сканиращата електронна микроскопия
Атомно-силовата микроскопия е сканиращ сондов микроскоп, разработен въз основа на основния принцип на сканиращата тунелна микроскопия. Микроскопията с атомна сила може да изследва много проби и да предостави данни за изследване на повърхността и контрол на производството или разработване на процеси, които конвенционалните сканиращи инструменти за грапавост на повърхността и електронните микроскопи не могат да предоставят. И така, какви са плюсовете и минусите между двете? Нека да разгледаме следното:
1. Предимства:
Микроскопията с атомна сила има много предимства пред сканиращата електронна микроскопия. За разлика от електронните микроскопи, които могат да предоставят само двуизмерни изображения, атомно-силовите микроскопи осигуряват истински триизмерни повърхностни карти. В същото време AFM не изисква специално третиране на пробата, като медно покритие или въглерод, което може да причини необратимо увреждане на пробата. Трето, електронните микроскопи трябва да работят при условия на висок вакуум, а микроскопите с атомна сила могат да работят добре при нормално налягане и дори в течна среда. Това може да се използва за изследване на биологични макромолекули и дори живи биологични тъкани.
2. Недостатъци:
В сравнение със сканиращия електронен микроскоп (SEM), недостатъкът на атомно-силовия микроскоп е, че обхватът на изображения е твърде малък, скоростта е твърде ниска и е твърде засегната от сондата. Атомно-силовата микроскопия е нов тип инструмент с висока резолюция на атомно ниво, изобретен след сканираща тунелна микроскопия. Той може да изследва физическите свойства на различни материали и проби в нанометрови области, включително морфология, в атмосферни и течни среди, или директно да провежда наноразмерни измервания. Манипулация; той се използва широко в областта на полупроводниците, нанофункционалните материали, биологията, химическата промишленост, храните, медицинските изследвания и изследователските експерименти на различни нано-свързани дисциплини в научноизследователски институти и се превърна в основен инструмент за нанонаучни изследвания . В сравнение със сканиращата тунелна микроскопия, атомно-силовата микроскопия има по-широка приложимост, тъй като може да наблюдава непроводими проби. Сканиращият силов микроскоп, който се използва широко в научните изследвания и индустрията, се основава на атомно-силовия микроскоп.
